製造プロセス|どう作るか– category –
製造プロセス|どう作るかでは、原料からシリコンウェハを作り、微細なトランジスタと多層配線を形成し、パッケージへ仕上げるまでの半導体製造工程を俯瞰します。前工程では、洗浄、酸化、成膜、フォトリソグラフィ、エッチング、イオン注入、アニール、CMP、配線形成を整理。後工程では、ウェハテスト、ダイシング、ボンディング、モールド、パッケージ検査までを紹介します。各工程で使われる装置、材料、薬液、ガス、計測技術と、CD、オーバーレイ、欠陥、歩留まり、スループットなどの管理指標も解説。FEOL・MOL・BEOLのつながりや、微細化・3D化で増える工程数と難しさを理解し、半導体がどのように量産されるのかを基礎から学べるカテゴリーです。工程ごとの目的と前後関係を図解的に捉えられるようにし、ニュースに登場する先端プロセス技術も基本工程とのつながりから説明します。
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テスト・検査・計測
FIBとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
FIBはFocused Ion Beamの略で、集束イオンビームにより微小領域を加工・観察する装置です。 -
テスト・検査・計測
SEMとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
SEMは走査電子顕微鏡で、集束電子線を走査して表面形状や微細構造を高分解能観察する装置です。 -
テスト・検査・計測
アナログテストとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
アナログテストは、増幅器、基準電源、電源回路、センサーIFなど連続値回路の性能を測定する試験です。 -
テスト・検査・計測
ミックスドシグナルテストとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
ミックスドシグナルテストは、ADC・DAC・PLLなどデジタルとアナログが混在する回路を統合評価する試験です。 -
テスト・検査・計測
SoCテストとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
SoCテストは、CPU、メモリ、アナログ、I/O、IPコアを統合したシステムオンチップを総合評価する試験です。 -
テスト・検査・計測
RFテストとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
RFテストは、高周波半導体の送受信性能、利得、雑音、線形性、周波数特性を測定する試験です。 -
テスト・検査・計測
メモリテストとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
メモリテストは、DRAM、SRAM、NANDなどのセル・配線・周辺回路の故障を検出し良否を判定する試験です。 -
テスト・検査・計測
JTAGとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
JTAGはIEEE 1149.1に基づく境界スキャン規格で、基板実装後の接続試験やデバッグに使われます。 -
テスト・検査・計測
BISTとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
BISTはBuilt-In Self-Testの略で、チップ内部にテストパターン生成・応答判定機能を組み込む設計手法です。