品質・歩留まり・信頼性– category –

品質・歩留まり・信頼性では、半導体を高い良品率で量産し、長期間安定して動作させるための管理手法と評価技術を解説します。歩留まり、欠陥密度、D0、SPC、CPK、OEEなど製造品質を示す指標を整理し、工程ばらつきやパーティクル、欠陥をデータから検出・改善する考え方を紹介します。信頼性分野では、バーンイン、HTOL、HAST、温度サイクル、加速試験、FIT、MTBFなどの評価方法を扱います。さらに、エレクトロマイグレーション（EM）、TDDB、NBTI、PBTI、ESD、ラッチアップ、ソフトエラーなど、故障や劣化を引き起こす代表的メカニズムを解説。設計、製造、テスト、品質保証が連携して製品寿命と市場品質を確保するための半導体用語を体系的に学べます。不良発生の予防、原因解析、再発防止、市場故障への対応まで、品質保証の一連の流れも理解できます。