製造プロセス|どう作るか– category –
製造プロセス|どう作るかでは、原料からシリコンウェハを作り、微細なトランジスタと多層配線を形成し、パッケージへ仕上げるまでの半導体製造工程を俯瞰します。前工程では、洗浄、酸化、成膜、フォトリソグラフィ、エッチング、イオン注入、アニール、CMP、配線形成を整理。後工程では、ウェハテスト、ダイシング、ボンディング、モールド、パッケージ検査までを紹介します。各工程で使われる装置、材料、薬液、ガス、計測技術と、CD、オーバーレイ、欠陥、歩留まり、スループットなどの管理指標も解説。FEOL・MOL・BEOLのつながりや、微細化・3D化で増える工程数と難しさを理解し、半導体がどのように量産されるのかを基礎から学べるカテゴリーです。工程ごとの目的と前後関係を図解的に捉えられるようにし、ニュースに登場する先端プロセス技術も基本工程とのつながりから説明します。
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後工程・組立・パッケージ
リードピッチとは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
リードピッチは、パッケージ外部端子の中心間距離で、実装密度、基板配線、はんだ付け難度を決める寸法です。 -
後工程・組立・パッケージ
HASTとは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
HASTはHighly Accelerated Stress Testの略で、高温・高湿・高圧蒸気環境により吸湿、腐食、絶縁劣化を加速する信頼性試験です。 -
後工程・組立・パッケージ
HTOLとは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
HTOLはHigh Temperature Operating Lifeの略で、高温動作・電圧印加により半導体の長期動作劣化を加速する試験です。 -
後工程・組立・パッケージ
パッケージ信頼性とは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
パッケージ信頼性は、温度、湿度、電圧、機械荷重などの使用環境でパッケージが所定寿命まで機能を維持できる能力です。 -
後工程・組立・パッケージ
熱サイクル試験とは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
熱サイクル試験は、低温と高温を繰り返して材料の熱膨張差による疲労・剥離・クラック耐性を評価する試験です。 -
後工程・組立・パッケージ
SATとは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
SATはScanning Acoustic Tomographyの略で、超音波を使ってパッケージ内部の剥離、ボイド、クラックを非破壊検出する装置・手法です。 -
後工程・組立・パッケージ
はんだ接合とは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
はんだ接合は、溶融はんだの濡れと凝固によって部品端子と基板ランドを電気的・機械的に接続する技術です。 -
後工程・組立・パッケージ
MSLとは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
MSLはMoisture Sensitivity Levelの略で、非気密パッケージの吸湿耐性と開封後の許容保管時間を区分する等級です。 -
後工程・組立・パッケージ
X線検査とは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
X線検査は、パッケージや基板内部のはんだ、バンプ、ワイヤ、ボイド、異物を非破壊で観察する検査です。