製造プロセス|どう作るか– category –
製造プロセス|どう作るかでは、原料からシリコンウェハを作り、微細なトランジスタと多層配線を形成し、パッケージへ仕上げるまでの半導体製造工程を俯瞰します。前工程では、洗浄、酸化、成膜、フォトリソグラフィ、エッチング、イオン注入、アニール、CMP、配線形成を整理。後工程では、ウェハテスト、ダイシング、ボンディング、モールド、パッケージ検査までを紹介します。各工程で使われる装置、材料、薬液、ガス、計測技術と、CD、オーバーレイ、欠陥、歩留まり、スループットなどの管理指標も解説。FEOL・MOL・BEOLのつながりや、微細化・3D化で増える工程数と難しさを理解し、半導体がどのように量産されるのかを基礎から学べるカテゴリーです。工程ごとの目的と前後関係を図解的に捉えられるようにし、ニュースに登場する先端プロセス技術も基本工程とのつながりから説明します。
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テスト・検査・計測
膜厚測定とは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
膜厚測定は、半導体ウェハ上の絶縁膜、金属膜、レジストなどの厚さと均一性を定量化する計測です。 -
テスト・検査・計測
エリプソメータとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
エリプソメータは、反射光の偏光変化から薄膜の膜厚と光学定数を非破壊測定する装置です。 -
テスト・検査・計測
XRDとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
XRDはX線回折法で、結晶構造、相、格子定数、配向、歪み、結晶性を非破壊評価します。 -
テスト・検査・計測
EDSとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
EDSはエネルギー分散型X線分析で、電子線照射により発生する特性X線から元素を同定します。 -
テスト・検査・計測
XPSとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
XPSはX線光電子分光法で、材料表面数nmの元素組成と化学結合状態を分析します。 -
テスト・検査・計測
SIMSとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
SIMSは二次イオン質量分析法で、表面をイオンスパッタしながら元素・同位体の深さ分布を高感度測定します。 -
テスト・検査・計測
TEMとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
TEMは透過電子顕微鏡で、薄膜試料を透過した電子から原子・結晶レベルの内部構造を観察します。 -
テスト・検査・計測
AFMとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
AFMは原子間力顕微鏡で、微小カンチレバーと表面の相互作用から三次元形状や物性を測定します。 -
テスト・検査・計測
故障解析(FA)とは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
故障解析は、不良半導体の症状を再現し、故障位置・物理原因・発生メカニズムを特定する活動です。