製造プロセス|どう作るか– category –
製造プロセス|どう作るかでは、原料からシリコンウェハを作り、微細なトランジスタと多層配線を形成し、パッケージへ仕上げるまでの半導体製造工程を俯瞰します。前工程では、洗浄、酸化、成膜、フォトリソグラフィ、エッチング、イオン注入、アニール、CMP、配線形成を整理。後工程では、ウェハテスト、ダイシング、ボンディング、モールド、パッケージ検査までを紹介します。各工程で使われる装置、材料、薬液、ガス、計測技術と、CD、オーバーレイ、欠陥、歩留まり、スループットなどの管理指標も解説。FEOL・MOL・BEOLのつながりや、微細化・3D化で増える工程数と難しさを理解し、半導体がどのように量産されるのかを基礎から学べるカテゴリーです。工程ごとの目的と前後関係を図解的に捉えられるようにし、ニュースに登場する先端プロセス技術も基本工程とのつながりから説明します。
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テスト・検査・計測
故障率とは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
故障率は、一定時間または使用回数あたりに製品が故障する頻度を示す信頼性指標です。 -
テスト・検査・計測
リジェクト率とは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
リジェクト率は、検査・テストした数量のうち不合格または再処理対象となった割合です。 -
テスト・検査・計測
欠陥密度とは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
欠陥密度は、ウェハや膜の単位面積あたりに存在する欠陥数を示す歩留まり指標です。 -
テスト・検査・計測
WIPとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
WIPはWork In Processの略で、製造ライン内で処理中・待機中の仕掛品を指します。 -
テスト・検査・計測
キュータイムとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
キュータイムは、ある工程の完了後から次工程を開始するまでの待ち時間です。 -
テスト・検査・計測
サイクルタイムとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
サイクルタイムは、ロットやウェハが工程投入から完了までに要する総時間です。 -
テスト・検査・計測
Cpkとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
Cpkは、工程平均とばらつきが規格範囲に対してどれだけ余裕を持つかを示す工程能力指数です。 -
テスト・検査・計測
OEEとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
OEEはOverall Equipment Effectivenessの略で、設備の可動率・性能・品質を掛け合わせた総合効率指標です。 -
テスト・検査・計測
トレーサビリティとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
トレーサビリティは、ウェハ、ダイ、パッケージ、材料、装置、レシピ、検査結果の履歴を追跡できる仕組みです。