製造プロセス|どう作るか– category –
製造プロセス|どう作るかでは、原料からシリコンウェハを作り、微細なトランジスタと多層配線を形成し、パッケージへ仕上げるまでの半導体製造工程を俯瞰します。前工程では、洗浄、酸化、成膜、フォトリソグラフィ、エッチング、イオン注入、アニール、CMP、配線形成を整理。後工程では、ウェハテスト、ダイシング、ボンディング、モールド、パッケージ検査までを紹介します。各工程で使われる装置、材料、薬液、ガス、計測技術と、CD、オーバーレイ、欠陥、歩留まり、スループットなどの管理指標も解説。FEOL・MOL・BEOLのつながりや、微細化・3D化で増える工程数と難しさを理解し、半導体がどのように量産されるのかを基礎から学べるカテゴリーです。工程ごとの目的と前後関係を図解的に捉えられるようにし、ニュースに登場する先端プロセス技術も基本工程とのつながりから説明します。
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品質・歩留まり・信頼性
SPCとは?半導体製造の統計的工程管理・管理図・異常検知を解説
SPC(Statistical Process Control)は、工程データを統計的に監視し、通常のばらつきと異常要因による変化を区別して品質を安定させる管理手法です。半導体では、製造直後に動くだけでなく、想定する環境と期間にわたり性能を維持することが必要です。本... -
テスト・検査・計測
テストカバレッジとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
テストカバレッジは、想定した故障モデルのうちテストで検出できる割合を示す品質指標です。 -
テスト・検査・計測
テストタイムとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
テストタイムは、1個のデバイスまたは1枚のウェハを試験して判定するまでの時間です。 -
テスト・検査・計測
コンタクト抵抗とは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
コンタクト抵抗は、プローブ・ソケット・電極・配線など二つの導体が接触する界面で生じる抵抗です。 -
テスト・検査・計測
バーンインソケットとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
バーンインソケットは、高温・長時間・電圧印加中にデバイスを基板へ接続する耐熱テストソケットです。 -
テスト・検査・計測
プローブニードルとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
プローブニードルは、プローブカードからウェハ上のパッドやバンプへ接触して電気信号を伝える微細接点です。 -
テスト・検査・計測
FITとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
FITはFailures In Timeの略で、10億デバイス時間あたりの故障件数を表す信頼性単位です。 -
テスト・検査・計測
MTBFとは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
MTBFはMean Time Between Failuresの略で、修理可能な設備が故障から次の故障まで稼働する平均時間です。 -
テスト・検査・計測
D0とは?半導体テスト・検査・計測における仕組み・評価方法・管理ポイントを解説
D0は、歩留まりモデルで使うランダム欠陥密度を表し、チップ面積と欠陥起因歩留まりを結び付けます。