製造プロセス|どう作るか– category –
製造プロセス|どう作るかでは、原料からシリコンウェハを作り、微細なトランジスタと多層配線を形成し、パッケージへ仕上げるまでの半導体製造工程を俯瞰します。前工程では、洗浄、酸化、成膜、フォトリソグラフィ、エッチング、イオン注入、アニール、CMP、配線形成を整理。後工程では、ウェハテスト、ダイシング、ボンディング、モールド、パッケージ検査までを紹介します。各工程で使われる装置、材料、薬液、ガス、計測技術と、CD、オーバーレイ、欠陥、歩留まり、スループットなどの管理指標も解説。FEOL・MOL・BEOLのつながりや、微細化・3D化で増える工程数と難しさを理解し、半導体がどのように量産されるのかを基礎から学べるカテゴリーです。工程ごとの目的と前後関係を図解的に捉えられるようにし、ニュースに登場する先端プロセス技術も基本工程とのつながりから説明します。
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品質・歩留まり・信頼性
NBTI・PBTIとは?MOSFETの閾値劣化・回復・寿命評価を解説
NBTI・PBTI(Negative / Positive Bias Temperature Instability)は、MOSFETへゲートバイアスと温度ストレスが加わることで、閾値電圧や相互コンダクタンスが時間依存で変化する劣化現象です。半導体では、製造直後に動くだけでなく、想定する環境と期間... -
品質・歩留まり・信頼性
ESDとは?半導体の静電気破壊・HBM・CDM試験と対策を解説
ESD(Electrostatic Discharge)は、帯電した人体、装置、部品などの電位差によって短時間の大電流が半導体へ流れ、損傷や特性劣化を起こす現象です。半導体では、製造直後に動くだけでなく、想定する環境と期間にわたり性能を維持することが必要です。本... -
品質・歩留まり・信頼性
温度サイクル試験とは?半導体パッケージの熱疲労・条件・評価方法を解説
温度サイクル(Temperature Cycling Test)は、低温と高温を繰り返して材料の熱膨張係数差による機械的疲労と接続信頼性を評価する試験です。半導体では、製造直後に動くだけでなく、想定する環境と期間にわたり性能を維持することが必要です。本記事では... -
品質・歩留まり・信頼性
TDDBとは?ゲート絶縁膜の経時破壊・試験方法・寿命予測を解説
TDDB(Time Dependent Dielectric Breakdown)は、絶縁膜へ電界が長時間加わることで欠陥が蓄積し、リーク増加やソフト・ハードブレークダウンへ至る劣化現象です。半導体では、製造直後に動くだけでなく、想定する環境と期間にわたり性能を維持することが... -
品質・歩留まり・信頼性
HTOLとは?半導体の高温動作寿命試験・加速条件・判定方法を解説
HTOL(High Temperature Operating Life)は、半導体デバイスを高温かつ動作・電気バイアス状態で長時間ストレスし、使用寿命中の故障を加速評価する試験です。半導体では、製造直後に動くだけでなく、想定する環境と期間にわたり性能を維持することが必要... -
品質・歩留まり・信頼性
HASTとは?半導体の高温高湿加速試験・条件・不良モードを解説
HAST(Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test)は、高温・高湿・加圧環境で半導体パッケージへの水分侵入と電気化学的劣化を加速する信頼性試験です。半導体では、製造直後に動くだけでなく、想定する環境と期間にわたり性能を維持する... -
品質・歩留まり・信頼性
Cpkとは?半導体の工程能力指数・計算式・改善方法を解説
CPK(Process Capability Index Cpk)は、工程平均の規格中心からのずれとばらつきを考慮し、規格内へ安定して収まる能力を示す指数です。半導体では、製造直後に動くだけでなく、想定する環境と期間にわたり性能を維持することが必要です。本記事では「半... -
品質・歩留まり・信頼性
OEEとは?半導体設備の総合効率・計算方法・改善ポイントを解説
OEE(Overall Equipment Effectiveness)は、設備が計画時間に対して、速度と品質を含めてどれだけ有効に生産へ使われたかを示す総合指標です。半導体では、製造直後に動くだけでなく、想定する環境と期間にわたり性能を維持することが必要です。本記事で... -
品質・歩留まり・信頼性
半導体の欠陥密度・D0とは?歩留まり計算・評価方法・改善策を解説
欠陥密度・D0(Defect Density / D0)は、ウェハやチップの単位面積当たりに存在し、回路不良を引き起こし得る欠陥数を表す指標です。半導体では、製造直後に動くだけでなく、想定する環境と期間にわたり性能を維持することが必要です。本記事では「半導体...