製造プロセス|どう作るか– category –
製造プロセス|どう作るかでは、原料からシリコンウェハを作り、微細なトランジスタと多層配線を形成し、パッケージへ仕上げるまでの半導体製造工程を俯瞰します。前工程では、洗浄、酸化、成膜、フォトリソグラフィ、エッチング、イオン注入、アニール、CMP、配線形成を整理。後工程では、ウェハテスト、ダイシング、ボンディング、モールド、パッケージ検査までを紹介します。各工程で使われる装置、材料、薬液、ガス、計測技術と、CD、オーバーレイ、欠陥、歩留まり、スループットなどの管理指標も解説。FEOL・MOL・BEOLのつながりや、微細化・3D化で増える工程数と難しさを理解し、半導体がどのように量産されるのかを基礎から学べるカテゴリーです。工程ごとの目的と前後関係を図解的に捉えられるようにし、ニュースに登場する先端プロセス技術も基本工程とのつながりから説明します。
-
製造プロセス|どう作るか
バリア層・シード層とは?Cu配線形成での役割と成膜技術を解説
、仕組み、半導体製造での用途、管理ポイント、技術動向を基礎から解説します。 -
製造プロセス|どう作るか
CMPのディッシング・エロージョン・スクラッチとは?原因と対策を解説
、仕組み、半導体製造での用途、管理ポイント、技術動向を基礎から解説します。 -
製造プロセス|どう作るか
EDA(Equipment Data Acquisition)とは?装置データ収集と活用を解説
、仕組み、半導体製造での用途、管理ポイント、技術動向を基礎から解説します。 -
製造プロセス|どう作るか
AMCとは?クリーンルームの分子状汚染・発生源・対策を解説
、仕組み、半導体製造での用途、管理ポイント、技術動向を基礎から解説します。 -
製造プロセス|どう作るか
歩留まり解析とは?ウェハマップ・不良モード・改善手順を解説
歩留まり解析は、半導体の性能、歩留まり、製造コストを理解するうえで重要な用語です。歩留まり解析は、テスト結果と製造履歴を結び付け、不良の空間分布、発生工程、装置・材料との相関を特定する活動です。 本記事では「半導体 用語」「半導体 基礎」を... -
製造プロセス|どう作るか
半導体モールドとは?樹脂封止工程・材料・不良対策を解説
モールドは、半導体の性能、歩留まり、製造コストを理解するうえで重要な用語です。半導体モールドは、チップ、ワイヤ、リードフレームや基板を封止樹脂で覆い、湿気、衝撃、汚染から保護する後工程です。 本記事では「半導体 用語」「半導体 基礎」を調べ... -
製造プロセス|どう作るか
半導体の歩留まり改善とは?欠陥低減・工程最適化の進め方を解説
歩留まり改善は、半導体の性能、歩留まり、製造コストを理解するうえで重要な用語です。歩留まり改善は、投入したウェハやダイのうち良品として出荷できる割合を高め、同じ設備から得られる売上と利益を増やす活動です。 本記事では「半導体 用語」「半導... -
製造プロセス|どう作るか
ダブル・トリプルパターニングとは?方式・工程・重ね合わせ課題を解説
ダブル・トリプルパターニングは、半導体の性能、歩留まり、製造コストを理解するうえで重要な用語です。ダブル/トリプルパターニングは、1回の露光で解像できない微細ピッチを複数回の成膜・露光・エッチングで分割して形成する技術です。 本記事では「... -
製造プロセス|どう作るか
レビューSEMとは?欠陥レビュー・分類・歩留まり解析を解説
レビューSEMは、半導体の性能、歩留まり、製造コストを理解するうえで重要な用語です。レビューSEMは、欠陥検査装置が示した座標を高倍率で観察し、欠陥の形状と原因候補を分類する走査電子顕微鏡です。 本記事では「半導体 用語」「半導体 基礎」を調べる...