後工程・組立・パッケージ– category –
後工程・組立・パッケージでは、ウェハ上に完成した回路を個々のダイに分割し、電気的・機械的に接続して製品へ仕上げる工程を解説します。ダイシング、ダイボンディング、ワイヤボンディング、フリップチップ、バンプ、Cuピラー、アンダーフィル、モールド、リードフレームといった基本工程を整理し、BGA、LGA、QFN、CSP、WLP、FOWLPなど主要パッケージの特徴を紹介します。TSV、RDL、2.5D・3D積層、CoWoS、SoIC、HBMパッケージ、SiPなどの先端実装にも対応。基板材料、はんだ、リフロー、放熱、反り、剥離、クラック、MSL、X線・超音波検査、熱サイクル、HAST、HTOLまで、実装品質と信頼性を左右する半導体後工程の用語を体系的に学べます。スマートフォン、車載、AI向け製品で求められる小型化・高速化・高放熱との関係もわかりやすく説明します。
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後工程・組立・パッケージ
HTOLとは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
HTOLはHigh Temperature Operating Lifeの略で、高温動作・電圧印加により半導体の長期動作劣化を加速する試験です。 -
後工程・組立・パッケージ
パッケージ信頼性とは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
パッケージ信頼性は、温度、湿度、電圧、機械荷重などの使用環境でパッケージが所定寿命まで機能を維持できる能力です。 -
後工程・組立・パッケージ
熱サイクル試験とは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
熱サイクル試験は、低温と高温を繰り返して材料の熱膨張差による疲労・剥離・クラック耐性を評価する試験です。 -
後工程・組立・パッケージ
SATとは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
SATはScanning Acoustic Tomographyの略で、超音波を使ってパッケージ内部の剥離、ボイド、クラックを非破壊検出する装置・手法です。 -
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はんだ接合とは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
はんだ接合は、溶融はんだの濡れと凝固によって部品端子と基板ランドを電気的・機械的に接続する技術です。 -
後工程・組立・パッケージ
MSLとは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
MSLはMoisture Sensitivity Levelの略で、非気密パッケージの吸湿耐性と開封後の許容保管時間を区分する等級です。 -
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X線検査とは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
X線検査は、パッケージや基板内部のはんだ、バンプ、ワイヤ、ボイド、異物を非破壊で観察する検査です。 -
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パッケージクラックとは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
パッケージクラックは、ダイ、モールド樹脂、基板、はんだなどに亀裂が発生する故障です。 -
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湿度感受性とは?半導体後工程・パッケージにおける仕組み・課題・評価方法を解説
湿度感受性は、樹脂系パッケージが空気中の水分を吸収し、加熱時に剥離やクラックを起こしやすくなる性質です。