半導体用語集– category –

アナログテストは、増幅器、基準電源、電源回路、センサーIFなど連続値回路の性能を測定する試験です。

ミックスドシグナルテストは、ADC・DAC・PLLなどデジタルとアナログが混在する回路を統合評価する試験です。

SoCテストは、CPU、メモリ、アナログ、I/O、IPコアを統合したシステムオンチップを総合評価する試験です。

RFテストは、高周波半導体の送受信性能、利得、雑音、線形性、周波数特性を測定する試験です。

JTAGはIEEE 1149.1に基づく境界スキャン規格で、基板実装後の接続試験やデバッグに使われます。

メモリテストは、DRAM、SRAM、NANDなどのセル・配線・周辺回路の故障を検出し良否を判定する試験です。

BISTはBuilt-In Self-Testの略で、チップ内部にテストパターン生成・応答判定機能を組み込む設計手法です。

スキャンチェーンは、フリップフロップを直列接続して内部状態を外部から設定・観測可能にするDFT構造です。

プローバは、ウェハ上の各ダイへプローブカードを正確に接触させ、ウェハテストを自動実行する装置です。